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UV755B佑科高精度紫外分光光度計(jì)
詳細(xì)信息品牌:佑科 加工定制:否 型號(hào):UV755B 波長(zhǎng)范圍:190-1100nm nm 加工定制:否 型號(hào):UV755B
佑科UV755B紫外分光光度計(jì)是一款高精度、高性能的實(shí)驗(yàn)室光譜定量分析設(shè)備,儀器內(nèi)置定量分析軟件,通過(guò)簡(jiǎn)單的參數(shù)設(shè)定,方便地進(jìn)行光度分析、定量分析、動(dòng)力學(xué)測(cè)試、光譜掃描、多波長(zhǎng)測(cè)試、DNA/蛋白質(zhì)分析,可存儲(chǔ)曲線和測(cè)試數(shù)據(jù),也可通過(guò)RS232接口或打印機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)輸出。
一、UV755B佑科高精度紫外分光光度計(jì)技術(shù)指標(biāo):
波長(zhǎng)驅(qū)動(dòng):自動(dòng)波長(zhǎng)
波長(zhǎng)范圍:190-1100nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:±1nm
波長(zhǎng)重復(fù)性:0.2nm
光譜帶寬:2nm
透射比準(zhǔn)確率:±0.5%T
透射比重復(fù)性:0.2%T
透射比范圍:0.0-200%T
光度范圍:-3-3A,0-200%T,0-9999C
雜散光:0.2%T@220nm/360nm
穩(wěn)定性:±0.002A/h@500nm
顯示方式:128×64位點(diǎn)陣液晶顯示
通訊方式:USB接口
打印機(jī):選配
分析軟件:支持
噪聲水平:0.001A/2min@500nm
基線平直度:0.002A/h
二、UV755B佑科高精度紫外分光光度計(jì)主要特點(diǎn):
1.采用51微機(jī)系統(tǒng),可存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)曲線和測(cè)試數(shù)據(jù);
2.儀器具有自我故障診斷功能;
3.提供斷電保護(hù);
4.儀器內(nèi)置定量分析軟件,方便用戶(hù)操作使用;
5.通過(guò)簡(jiǎn)單的參數(shù)設(shè)定,方便地進(jìn)行光度分析.定量分析.動(dòng)力學(xué)測(cè)試.光譜掃描.多波長(zhǎng)測(cè)試.DNA/蛋白質(zhì)分析;
6.具有標(biāo)準(zhǔn)打印機(jī)接口和RS-232通訊接口。
三、UV755B紫外分光光度計(jì)可廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)境保護(hù)、食品工業(yè)、石油化工、生物化學(xué)、大專(zhuān)院校及質(zhì)量控制等部門(mén)。
推薦產(chǎn)品目錄:愛(ài)華聲級(jí)計(jì)、愛(ài)華環(huán)境人體振動(dòng)測(cè)量分析儀、材料聲學(xué)吸聲隔聲測(cè)量系統(tǒng)、無(wú)線建筑聲學(xué)測(cè)量系統(tǒng);硅鋼片鐵損測(cè)試儀、高斯計(jì)特拉斯計(jì)、磁通計(jì),easylaser激光對(duì)中儀測(cè)平儀,激光測(cè)徑儀、金相試樣切割機(jī)、金相試樣研磨拋光機(jī)、金相試樣鑲嵌機(jī),工業(yè)硬度計(jì)、超聲波測(cè)厚儀,電學(xué)檢測(cè)設(shè)備(同惠/艾諾/普源等品牌),電化學(xué)儀器(分光光度計(jì)/電導(dǎo)率儀),力學(xué)檢測(cè)設(shè)備,工件質(zhì)量檢測(cè)/品質(zhì)管理檢測(cè)儀器,以色列諾佳磁性表座表架等。 -
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